VICIVISION 测量接触式探头MTL X series

描述：意大利VICIVISION 测量接触式探头MTL X series
一套测量系统，多种选择
Vicivision提供了全新的轴测量功能，将特定的光学技术方法与接触式探针测量系统相结合。

更新时间：2023-11-20

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详情介绍

光学与接触式测量结合的性能表现
一套测量系统，多种选择
Vicivision提供了全新的轴测量功能，将特定的光学技术方法与接触式探针测量系统相结合。
光学测量系统由远心透镜、光源、旋转系统和传感器组成，多年来为数百个轴类零件生产商提供了广泛的测量。
如今，光学和接触式测量功能的结合使得一个旋转工件的全部测量控制只需一个周期。
测量系统现如今配备了一根雷尼绍扫描探针，安装在光源顶部。探针可更换并能覆盖整个长度区域。
当光学测量系统快速提供静态、几何和螺纹测量、形状和螺母测量时，接触系统则检测光学测量不了的特征。
光学与接触的结合为最终用户提供的测量选项：
轴向跳动和轴向全跳动
长度

平面度

垂直度

键槽宽度

键槽深度

键槽长度

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