描述：HELIUS 300手持式X荧光光谱仪选用高性能Si-pin探测器，广泛应用于合金、土壤和贵金属分析领域。
性能特点
快速、无损的分析检测
结合了强大的基本参数法（FP），只要选择符合需求的应用，可秒级判定金属牌号，延长数秒检测时间即可获得实验室级别的分析结果
值得信赖的检测结果
采用高性能 SDD 探测器和*算法的高性能 AXRUNI系统设计可提供您可以信赖的准确元素分析结果
随时随地检测
人体工学设计，重量轻，体积小，握持平衡性好
锥形测试头可轻松检测弯曲或拐角部分，如焊缝等
大容量电池确保10-12小时现场检测工作
维护成本低
开箱即可使用，图标式用户界面, 直观简单
无防扎窗口设计有效保护设备前端
坚固耐用，防尘防水性能达到IP54标准，可在-10°C～50°C温度范围内连续正常工作，从容应对野外作业环境挑战
友好的操作软件
智能操作系统，操作简单、便捷
5寸彩色触摸屏，具有背光功能，户外强光下也能清晰看到屏幕数据显示
用户可对现有牌号库进行修改，添加新牌号或创建自己的牌号库
产品选型
