描述：SEM4000分析型热场发射扫描电子显微镜是一款分析型热场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计，束流大且连续可调，在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。支持低真空模式，可直接观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式，以及直观的操作界面，让您的分析工作倍感轻松。
配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪
分辨率高，30 kV下优于1 nm的极限分辨率
三级磁透镜设计，束流可调范围大
*低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器，可观察导电性弱或不导电样品
无漏磁物镜设计，可直接观察磁性样品
标配的光学导航模式，中文操作软件，让分析工作更轻松
PA-玻纤复合材料
加速电压：10 kV / 放大倍率：×500
二氧化硅微球
加速电压：10 kV / 放大倍率：×80000
金属断口
加速电压：15 kV / 放大倍率：×5000
金属微观组织（铝铜焊接件）
加速电压：20 kV / 放大倍率：×10000
水菜花花粉
加速电压：10 kV / 放大倍率：×50000
钛酸锶钡陶瓷
加速电压：10 kV / 放大倍率：×10000
钛合金
加速电压：10 kV / 放大倍率：×5000
钛合金
加速电压：10 kV / 放大倍率：×10000
| 关键参数 | 分辨率 | 1 nm @ 30 kV，SE |
| 0.9 nm @ 30 kV, STEM | ||
| 加速电压 | 200 V ~ 30 kV | |
| 放大倍率 | 1 ~ 1,000,000 x | |
| 电子枪类型 | 肖特基场发射电子枪 | |
| 样品室 | 真空系统 | 全自动控制 |
| 低真空模式（选配） | 最大180Pa | |
| 摄像头 | 双摄像头（光学导航+样品仓内监控） | |
| 行程 | X：120 mm | |
| Y：115 mm | ||
| Z：50 mm | ||
| T: -10°~ +90° | ||
| R: 360° | ||
| 探测器和扩展 | 标配 | 侧向低角度电子探测器 |
| 选配 | 低真空二次电子探测器 | |
| 背散射电子探测器 | ||
| STEM自动插入式扫描透射探测器 | ||
| 样品交换仓 | ||
| EDS能谱仪 | ||
| EBSD背散射衍射 | ||
| EBIC电子束感生电流 | ||
| CL阴极荧光 | ||
| 高低温原位拉伸台 | ||
| 纳米机械手 | ||
| 大图拼接 | ||
| 轨迹球&旋钮控制板 | ||
| 软件 | 语言 | 中文 |
| 操作系统 | Windows | |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航 | |
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 |
